堿基切割序列掃描(base excision sequence scaning, BESS)是一種不通過測序而檢測和定位突變的新技術。它的基本技術路線是:用熒光或同位素標記的引物在有dUTP的條件下進行PCR擴增,選用適宜限制酶將PCR產物于dU位點處切斷,以高分辨PAGE膠分離并比較待檢和標準對照條帶,從而檢測和定位突變。BESS的一個反應就可篩查長達千個堿基的DVA序列,而且它對點突變、缺失、插入、倒位及框移動的檢測有效率大于90%。該技術以其突變檢測 效率高和覆蓋面廣而被推廣和應用。
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